スキャナー技術で世界を変える｜ニューリー株式会社
国際画像機器展2013出展
2013年12月4日（水）～6日（金）の3日間、パシフィコ横浜にて開催の「国際画像機器展2013」に、弊社 検査システム「 i SCAMERA シリーズ 」を出展いたしました。
当展示ブースでは、独自の検査エンジンソフトと検査に特化したスキャナーを組み合わせた検版システム（画像比較検査）、高速検査システム（欠点検出検査）、その他、オリジナル検査ソフトウェアを多数ご紹介いたしました。
多数のご来場をいただきまして、誠にありがとうございました。今後ともどうぞ宜しくお願いいたします。
- 会期
- 2013年12月4日（水）～6日（金）10:00-17:00
- 会場
- パシフィコ横浜（ブース番号73）
- 出展内容
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検版システム「スキャナー＋画像比較検査ソフトウェア」
高速検査システム「スキャナー＋欠点検出検査ソフトウェア」
オリジナル検査ソフトウェア
- 窓口
- 営業部 0774-46-7590
