スキャナー技術で世界を変える|ニューリー株式会社

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ICT治具製作
ICT Fixture Making

実装基板検査分野におけるインサーキットテストを主体に、プログラム作成・コンサルティングを行っております。
また、CADデータや部品表から検査プログラムを作成し、治具を製作いたします。

弊社が保有しているインサーキットテスターは、以下の通りです。

・キーサイト・テクノロジー合同会社製 i3070 1台
・キーサイト・テクノロジー合同会社製 i1000D 1台

また、検査項目につきましては、以下の通りです。

1.ショート・オープンテスト(基板全体のショート検査)
2.アナログインサーキットテスト(アナログ部品の規格値検査)
3.VTEP(BGA等の半田不良検査)
4.デジタルインサーキットテスト(デジタルデバイスのロジック検査)
5.バンダリースキャンテスト(プローブレス、BGA・BGA周辺の半田不良検査)
6.CET(プローブレス、BGA・SMTコネクタの半田不良検査)
7.ファンクションテスト(特定ブロックの機能検査)

特にキーサイト・テクノロジー社のVTEP検査・バンダリースキャン検査・CET検査を駆使したプログラムで、BGAデバイスやSMTコネクタの検査を可能とし、さらにプローブの削減をも行い、これまで以上の品質保証をご提案しております。
また、保有のインサーキットテスターを使用した基板検査代行業務も行っており、VTEP・バンダリースキャンテスト・CET検査をテスターをお持ちでないお客様にもご活用いただけます。

20年以上の実績で「任せて安心」の検査プログラムおよび治具製作を行います。