スキャナー技術で世界を変える｜ニューリー株式会社

国際画像機器展2012出展

2012年12月5日（水）～7日（金）の3日間、パシフィコ横浜にて開催の「国際画像機器展2012」に、弊社新コンセプトスキャナー「スキャメラシリーズ」より、検査用スキャナーシステム（Spot Vision System）の事例紹介として、検査用スキャナーシステム（表面検査）「Spot Vision System for Solid Inspection」を出展しました。

多数のご来場をいただきまして、誠にありがとうございました。
今後とも、どうぞ宜しくお願いいたします。

会期

2012年12月5日（水）～7日（金）　10:00-17:00

会場

パシフィコ横浜

出展内容

検査用スキャナーシステム（表面検査）
「Spot Vision System for Solid Inspection」

窓口

営業部 0774-46-7590

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