ICT治具製作
ICT Fixture Making
実装基板検査分野におけるインサーキットテストを主体に、プログラム作成・コンサルティングを行っております。
また、CADデータや部品表から検査プログラムを作成し、治具を製作いたします。
検査項目につきましては、以下の通りです。
1．ショート・オープンテスト（基板全体のショート検査）
2．アナログインサーキットテスト（アナログ部品の規格値検査）
3．VTEP（BGA等の半田不良検査）
4．デジタルインサーキットテスト（デジタルデバイスのロジック検査）
5．バンダリースキャンテスト（プローブレス、BGA・BGA周辺の半田不良検査）
6．CET（プローブレス、BGA・SMTコネクタの半田不良検査）
7．ファンクションテスト（特定ブロックの機能検査）
特にキーサイト・テクノロジー社のVTEP検査・バンダリースキャン検査・CET検査を駆使したプログラムで、BGAデバイスやSMTコネクタの検査を可能とし、さらにプローブの削減をも行い、これまで以上の品質保証をご提案しております。
また、保有のインサーキットテスターを使用した基板検査代行業務も行っており、VTEP・バンダリースキャンテスト・CET検査をテスターをお持ちでないお客様にもご活用いただけます。
20年以上の実績で「任せて安心」の検査プログラムおよび治具製作を行います。
