スキャナー技術で世界を変える｜ニューリー株式会社
国際画像機器展2016 出展（2016年12月7日～9日）
2016年12月7日（水）～9日（金）の3日間、パシフィコ横浜において開催されます「国際画像機器展2016」に出展いたします。
当展示会では、ニューリー独自の検査アルゴリズムと検査に特化したスキャナーを組合せた 検査システムの出展を予定しております。
※ その他、お客様のニーズに合わせてカスタマイズ製品もご提案させていただきます。
【会期】2016年12月7日（水）～9日（金）10:00-17:00
【会場】パシフィコ横浜 【ブース番号 143】
【出展内容】
1）『Quick Inspection（ソフトウェア）』パターン・マッチング検査装置
2）『微細電極検査装置』
【窓口】営業部 0774-46-7590
