微小高さ計測スキャナ

	10μm単位の高さを階調表現！「スキャメラ・マイクロハイマップ」は最大A4サイズ原稿の微細な表面形状の10μｍ単位の高さを階調表現できる画期的な高さ計測スキャナです。当社オリジナル方式であるμHMAP（マイクロハイマップ）技術とZ軸補正機能により、高速測定を実現。さらに歪のない光学系とZ軸コントロールにより、表面形状の微細な凹凸の高さを自動測定することができます。高解像度画像から、高深度多焦点画像を生成してリアル表示しますので、顕微鏡レベルの拡大でありながら広域かつ高品位な画像を再現し、各種検査から加工データ生成まで、様々な用途に活用できます。
	μHMAP（マイクロハイマップ）技術による高さ測定！ 10μmの分解能で高さを測定し、多焦点画像を自動生成することができます。さらに、標準搭載の専用アプリケーションにて、3D画像を生成・表示することができます。
	最大A4サイズ原稿を高さ計測！ナロー（短冊）スキャンで最大A4サイズ原稿のスキャニングが可能です。各ナローは、専用アプリケーションで自動つなぎを実行し1つのファイルに統合します。

ベンチマークテスト
スキャメラ・マイクロハイマップは、突起やへこみなど微細な素材表面検査に威力を発揮します。ご検討中の被検査対象物のベンチマークテストを承っています。お気軽にお試しください。

10μm単位の高さを階調表現！